Bericht versturen
Thuis Productenaftastenelektronenmicroscoop

BSE EDS de Elektronenmicroscoop1x-300000x 3nm Resolutie van het Tafelbladaftasten

Certificaat
China Phidix Motion Controls (Shanghai) Co., Ltd. certificaten
China Phidix Motion Controls (Shanghai) Co., Ltd. certificaten
Ik ben online Chatten Nu

BSE EDS de Elektronenmicroscoop1x-300000x 3nm Resolutie van het Tafelbladaftasten

BSE EDS de Elektronenmicroscoop1x-300000x 3nm Resolutie van het Tafelbladaftasten
BSE EDS de Elektronenmicroscoop1x-300000x 3nm Resolutie van het Tafelbladaftasten BSE EDS de Elektronenmicroscoop1x-300000x 3nm Resolutie van het Tafelbladaftasten BSE EDS de Elektronenmicroscoop1x-300000x 3nm Resolutie van het Tafelbladaftasten BSE EDS de Elektronenmicroscoop1x-300000x 3nm Resolutie van het Tafelbladaftasten BSE EDS de Elektronenmicroscoop1x-300000x 3nm Resolutie van het Tafelbladaftasten

Grote Afbeelding :  BSE EDS de Elektronenmicroscoop1x-300000x 3nm Resolutie van het Tafelbladaftasten

Productdetails:
Plaats van herkomst: China
Merknaam: Phidix
Certificering: IATF16949,CE
Modelnummer: M22006
Betalen & Verzenden Algemene voorwaarden:
Min. bestelaantal: Overeen te komen
Prijs: Negotiable
Verpakking Details: 1 PC/Wooden-Doos
Levertijd: 40 het Werkdagen
Betalingscondities: L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union
Levering vermogen: 10 PCS/Month

BSE EDS de Elektronenmicroscoop1x-300000x 3nm Resolutie van het Tafelbladaftasten

beschrijving
Kleur: wit Aanpassing: OEM, ODM
Verpakking: 1 PC/Carton Garantie: 1 jaar
Productietijd: 40 het werkdagen Levering vermogen: 10 PCS/Month
Resolutie: 3Nm Vergroting: 300000X
Versnellend Voltage: 1~30kV Signaalopsporing: Secundaire Elektronendetector (SED)
Elektronenkanon: Pre-gerichte middelgrote vork-type wolframgloeidraad Max Sample-grootte: 370mm in diameter, 68mm in hoogte
Autofunctie: Autohelderheidscontrast, Autonadruk Vacuümsysteem: Dan 9 X 10-4 beter Pa onder Hoog Vacuüm
Hoog licht:

BSE AftastenElektronenmicroscoop

,

3nm de Elektronenmicroscoop van het resolutieaftasten

,

EDS de elektronenmicroscoop van het tafelbladaftasten

 

De Elektronenmicroscoop3nm Resolutie van het vergrotings1x-300000x Aftasten met Facultatief BSE, EDS, EBSD, WDS en cl

 

M22006 is een rendabele het aftastenelektronenmicroscoop van de wolframgloeidraad voor de observatie van nanoscalemicrostructuren. Het heeft een vergroting van tot 300,000x en een resolutie dan beter 3nm en is ook uitgerust met een 370mm kamer van de diametersteekproef. Het is een krachtige aftastenelektronenmicroscoop met ultrahoge resolutie en uitstekende beeldkwaliteit. De vergroting is onophoudelijk regelbaar, en de duidelijke beelden met hoge helderheid kunnen op verschillend gebied van mening worden verkregen. De velddiepte is groot en het beeld is rijk aan stereo-installatie. Uitgerust met grote steekproef kamer en laag voltage breidt een wijze zeer de waaier van toepassingen uit.

 

Specials:

 

- Vergroting Maximum 300000X.

- Signaalopsporing: Secundaire Elektronendetector (SED).

- Versnellend Voltage: 1~30KV, Hoge afbeeldingsresolutie.

- BSE/EDS/EBSD/WDS/CL is facultatief, voor componentenanalyse.

- Hoog Vacuümsysteem.

- Automatische As drie (Norm).

 

Punt Specificatie M22006
Resolutie 3nm@30kV (SE)
Vergroting 1X~300000X
Versnellend Voltage 1~30kV
Signaalopsporing Secundaire Elektronendetector (SED)
Elektronenkanon Pre-gerichte middelgrote vork-type wolframgloeidraad
Autofunctie Autohelderheidscontrast, Autonadruk
StageSystem/Beweging Controlemethode: Automatische Klep
Turbomolecularpomp: 240 L/S
Mechanische Pomp: 12 m ³ /h (50 Herz)
Camera: Optische Navigatie, die in de Steekproefkamer controleren
De Configuratie van het steekproefstadium, Automatische As Drie (Norm)
X: 0~100mm
Y: 0~100mm
Z: 0~60mm
Max Sample Diameter: 370mm
Max Sample Height: 68mm
Automatische As vijf (Facultatief)
X: 0~115mm
Y: 0~115mm
Z: 0~65mm
R: 360°
T: -10°~75°
Max Sample Diameter: 370mm
Max Sample Height: 73mm
Vacuümsysteem Dan 9 X 10-4 beter Pa onder Hoog Vacuüm
Facultatieve Detector BSEEDSEBSDWDSCL
Weergavesysteem Beeldpixel ≤ 6144 x 4096
Beeldformaat: TIF, JPG, BMP, PNG
Software Taal: Chinees/het Engels
Besturingssysteem: Vensters
Navigatie: Optische Navigatie, Gebaar Snelle Navigatie
Speciale Functie: Dynamisch Astigmatisme
Installatievereisten Ruimte: L≥ 3000 mm, W ≥ 4000 mm, H ≥ 2300 mm
Deurgrootte: W ≥ 900 mm, H ≥ 2000 mm
Temperatuur: 20 ℃ aan 25 ℃
Vochtigheid: ≤ 50%
Lawaai: ≤ 45dB
Voeding: AC 220 V (± 10%), 50 Herz, kVA 2
Gronddraad: Minder dan 4 Ω
AC Magnetisch veld: NT minder dan 100

Nota:● middelennorm, facultatieve middelen ○

 

 

Galerij

 

BSE EDS de Elektronenmicroscoop1x-300000x 3nm Resolutie van het Tafelbladaftasten 0

BSE EDS de Elektronenmicroscoop1x-300000x 3nm Resolutie van het Tafelbladaftasten 1

BSE EDS de Elektronenmicroscoop1x-300000x 3nm Resolutie van het Tafelbladaftasten 2

 

 

Toepassingen

 

BSE EDS de Elektronenmicroscoop1x-300000x 3nm Resolutie van het Tafelbladaftasten 3

BSE EDS de Elektronenmicroscoop1x-300000x 3nm Resolutie van het Tafelbladaftasten 4

 

 

BSE EDS de Elektronenmicroscoop1x-300000x 3nm Resolutie van het Tafelbladaftasten 5

 

 

 

Contactgegevens
Phidix Motion Controls (Shanghai) Co., Ltd.

Contactpersoon: Johnny Zhang

Tel.: 86-021-37214606

Fax: 86-021-37214610

Direct Stuur uw aanvraag naar ons (0 / 3000)